一、产品概述
1. Leic aDM12000M全新的光学设计,可以提供宏观模式快速初检,以及倾斜紫外光路功能(OUV, 倾斜紫外观察模式) 不单提升了分辨率还提高了检查12英寸(300毫米)硅片的产能。
2. LED 照明技术 一体化设计并整合在显微镜上. 低热辐射和机身内一体化技术确保了理想的机身外空气流动状态。低能耗的节电设计大大延长了使用寿命,符合绿色环保的理念。
3. 一键式的操控设计使用户可以轻易地完成倍率转换和相关的照明和相衬效果。
二、产品参数
1.光学系统：HC光学部件（无穷校正的光学系统）
2.观察镜筒：抬高模块三目镜筒，带图像竖起功能；切换位置（目镜/摄像头）：100/0%和0/100%、100/0%和50/50%
3.宏观成像：可达40mm的样品面积
4.照明系统：带LED的反射光照明系统；观察方法：明场、暗场、DIC、定性POL、斜射、UV、OUV集成的自动孔径光阑、带LED的透射光照明系统；观察方法：明场、定性POL 4位反射镜转盘（手动/电动操作）
5.支持系统：内置照明管理系统、内置对比度管理器
6.旋转物镜转盘：电动、明场/暗场（M32）、6-位，带用于DIC的滑板槽通过正面的控制面板或外部遥控装置改变放大倍率。
7.载物台：手动检验载物台12x12’’；302x302mm移动范围，快速调节手柄；用于反射光和透射光观察、扫描载物台12x12’’；302x302mm移动范围，电动，4mm锭子螺距；用于反射光和透射光观察。
8.调焦机制：高硬度手动2齿轮调焦，35mm冲程，高度可调的调焦旋钮；高精度手动3齿轮调焦，35mm冲程，高度可调的调焦旋钮；电动2齿轮调焦，35mm冲程，高度可再现能力，齐焦调节。
